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    邊發射激光器測試服務

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    邊發射激光器測試服務

    可提供專業的光通訊激光芯片測試分選服務

    測試種類:

    可涵蓋的速率 2.5G 10G 25G各類激光器芯片
    可涵蓋的波長 1200nm至1600nm

    測試方式:

    Chip測試


    測試指標:

    ·Ith 閾值

    ·Rs 電阻

    ·Vop 電壓

    ·P 功率

    ·SE 斜效率

    ·LiPo 飽和

    ·Kink 功率扭折

    ·λP 波長

    ·SMSR 邊模抑制比

    ·?λ 半波譜寬

    ·可根據客戶需求調整參數



    我們的優勢:

    · 超過3億顆DFB芯片測試經驗

    · 超過500萬顆EML芯片測試經驗

    · 溫度測試范圍廣(-40℃~100℃)

    · 二十多家客戶服務經驗,其中有超過十家國外客戶

    · 數據庫跟蹤每個芯片的測試結果

    · AOI可覆蓋脊波導發光區2μm

    · 范圍完整的樣品、NPI和批量生產制程控制流程

    · 完整的金樣、銀樣、校準和GRR控制流程

    · 全過程無接觸芯片,避免靜電風險

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