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    垂直腔面發射激光器測試服務

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    垂直腔面發射激光器測試服務

    可提供專業高效的VCSEL芯片芯片測試解決方案

    測試種類:

    3D傳感VCSEL 可涵蓋的波長:600nm至 1200nm

    測試方式:

    Chip測試


    Wafer測試


    測試指標:

    ·Ith 閾值

    ·Vop 電壓/p>

    ·P 功率

    ·SE 斜效率

    ·FF 遠場發散角

    ·PCE 光電效率

    ·LiPo 飽和

    ·Kink 功率扭折

    ·λP 波長

    ·?λ 半波譜寬

    ·NF 近場眼數



    我們的優勢:

    · 全球獨家提供全新先進的VCSEL芯片測試解決方案和OCR跟蹤解決方案

    · 測試機高度集成,技術能力、穩定性和多樣性已超越歐美同類型設備廠商水平

    · 設備得到歐美尖端客戶認可并已出口歐美

    · 全球成本較低的解決方案

    · AOI與測試相集成

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